1～3年模拟情况

金士顿KC2500经老化测试后耗时暴增,第三年已完全无法测试IO状况

西数及铠侠在第二年后开始出现较为明显的变化幅度,三星及致钛变化不明显

4～5年模拟情况

5年测试下来,西数和铠侠IO缩水基本在20%左右

三星和致钛与原始数据相比IO缩水控制在10%左右

测试视频:https://www.bilibili.com/video/BV1uF41187QW/

循环通断电测试(仅供参考):

计算方式:假设用户在质保每天电脑开关机次数2-3次,一年约为1000次,5年下来预计在6000次左右

自制简易型电磁继电器用于测试自动通断电

测试过程中:

1000次通断电测试,全部存活

值得注意的是仅铠侠掉了1%的健康度

5年模拟通断电测试

1.英睿达直接直接掉盘

2.金士顿因数据编译器损坏导致数据无法被读取

3.铠侠健康掉了15%(看起来铠侠的健康度还与通断电次数挂钩)

三星、铠侠、西数、致钛成功通过5年6000次通断电模拟测试,数据校验无异常